SN74ABT8245|SN54ABT8245

### 物料型号 - 型号：SN54ABT8245 和 SN74ABT8245 - 类别：扫描测试设备，具有八路总线收发器

### 器件简介 这些器件是德州仪器SCOPE™测试能力集成电路家族的成员，支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以便于复杂电路板组装的测试。通过4线测试访问端口（TAP）接口实现对测试电路的扫描访问。

### 引脚分配 - A1-A8：正常功能A总线I/O端口 - B1-B8：正常功能B总线I/O端口 - DIR：正常功能方向控制输入 - GND：地 - OE：正常功能输出使能输入 - TCK：测试时钟 - TDI：测试数据输入 - TDO：测试数据输出 - TMS：测试模式选择 - VCC：供电电压

### 参数特性 - 工作温度范围：SN54ABT8245为-55°C至125°C，SN74ABT8245为-40°C至85°C - 封装选项：包括塑料小外形封装（DW）、陶瓷芯片载体（FK）和标准陶瓷DIP（JT）

### 功能详解 - 测试模式：在测试模式下，SCOPE™总线收发器的正常操作被禁止，测试电路被启用以观察和控制设备的I/O边界。 - 测试引脚：四个专用测试引脚控制测试电路的操作：TDI、TDO、TMS和TCK。 - 测试功能：包括对数据输入的并行签名分析（PSA）和从数据输出的伪随机模式生成（PRPG）。

### 应用信息 这些设备适用于需要边界扫描测试的复杂电路板组装，以提高测试的覆盖率和效率。

### 封装信息 - DW：塑料小外形封装，24引脚 - FK：陶瓷芯片载体，28引脚 - JT：标准陶瓷DIP，24引脚